Produit

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ORATEK SA
K110

CXY-300 - Plateforme de vision et métrologie pour le contrôle qualité

MACHINESmachines (fabricants)MÉTROLOGIEinstruments de mesure
Plateforme phare de vision et métrologie d'Oratek pour le contrôle de composants au micron. Imagerie Keyence haute résolution, stabilité mécanique suisse et logiciel intelligent dans un format compact de paillasse. API ouverte pour l'intégration MES et QA.