ORATEK SA
K110
K110
CXY-300 - Plateforme de vision et métrologie pour le contrôle qualité
MACHINESmachines (fabricants)MÉTROLOGIEinstruments de mesurePlateforme phare de vision et métrologie d'Oratek pour le contrôle de composants au micron. Imagerie Keyence haute résolution, stabilité mécanique suisse et logiciel intelligent dans un format compact de paillasse. API ouverte pour l'intégration MES et QA.